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隨著智(zhi)能(neng)卡(ka)的大量(liang)生產和(he)使用，智(zhi)能(neng)卡(ka)生產商(shang)對 Inlay檢測的要(yao)求(qiu)越來越高。利用Inlay檢測儀(yi)，可實現對Inlay的批量檢(jian)測，快速、準確找到問題Inlay，并可批量對其進行寫入(ru)和個性(xing)化操作。 

1. 可(ke)對符合ISO 14443A和ISO15693協(xie)議的Inlay進行(xing)檢(jian)測，區分(fen)其通信協(xie)議，并區分(fen)同協議Inlay的(de)型號，辨別兼容或(huo)原裝的(de)MifareS50和MifareS70的Inlay。

2. 將多個標簽按照(zhao)檢測儀的(de)指(zhi)示排列在其指(zhi)定區域內，最(zui)大檢測數(shu)量可(ke)定制(zhi)。

3. 支(zhi)持對每(mei)個標(biao)簽射頻系(xi)統的(de)檢測(ce)，快速找到(dao)問題標(biao)簽。

4. 支持(chi)對(dui)每(mei)個標(biao)簽(qian)的(de)數據(ju)塊的(de)檢測(ce)，快(kuai)速(su)找到問題標(biao)簽(qian)。

5. 可對整版標簽進(jin)行出廠設置。

6. 可對每個標簽進行個性化。